Маркіна Ольга Миколаївна

Маркіна Ольга Миколаївна

Маркіна Ольга Миколаївна
Посада: доцент кафедри
Науковий ступінь: КАНДИДАТ технічних наук

Персональна сторінка викладача

У 2006 році закінчила приладобудівний факультет Національного технічного університету України “КПІ” за спеціальністю “Прилади точної механіки” та здобула кваліфікацію “Магістр з приладобудування”. З 2007 по 2010 рр. навчалася в аспірантурі НТУУ “КПІ”.

Після закінчення університету працювала інженером-конструктором у Конструкторському бюро “Луч”.

У грудні 2015 року успішно захистила кандидатську дисертацію на тему “ВДОСКОНАЛЕННЯ ТЕЛЕВІЗІЙНОЇ ВИМІРЮВАЛЬНОЇ СИСТЕМИ ДЛЯ ВИЗНАЧЕННЯ ГЕОМЕТРИЧНИХ РОЗМІРІВ ТОПОЛОГІЧНИХ ЕЛЕМЕНТІВ ТИПУ ШКАЛ ТА СІТОК”.

На кафедрі НАЕПС КПІ ім. Ігоря Сікорського працює з 2006 року. Відповідає за переддипломну та науково-дослідну практику студентів та педагогічну практику аспірантів. Викладає навчальні дисципліни “Теорія автоматичного керування”, “Проектування приладів”, “Основи САПР”, “Інформаційно-вимірювальні системи на ПЗЗ”

Наукові інтереси – інформаційно-вимірювальні системи, телевізійні інформаційні вимірювальні системи.

  • Молодий викладач-дослідник 2015
  • Патент 103849
  • Патент 95615
  • Патент 89022
  • Патент 89021
  • Сертифікат LearnEnglish Pathways

Ольга Миколаївна Маркіна є:

  • лауреатом стипендії Кабінету міністрів України для молодих учених (2016 – 2018 рр.);
  • переможцем конкурсу КПІ ім. Ігоря Сікорського в номінації «Молодий викладач-дослідник – 2015»;
  • переможцем конкурсу КПІ ім. Ігоря Сікорського в номінації «Молодий викладач-дослідник – 2016»;
  • переможцем конкурсу КПІ ім. Ігоря Сікорського в номінації «Молодий викладач-дослідник – 2017»;
  • відповідальною за практику та працевлаштування на кафедрі.

Автор понад 40 наукових публікацій, 14 патентів України та двох монографій.

Статті

  1. Маркіна О.М. Вплив еквівалентної довжини хвилі на точність біспектрального телевізійного пірометра / М.О.Маркін, В.А.Порєв, О.М.Маркіна // Наукові праці ДонНТУ, Серія “Обчислювальна техніка та автоматизація”. – 2007. – Вип. 14 (129). – С. 196-200.
  2. Маркіна О.М. Оцінка похибки вимірювання геометричних параметрів за допомогою телевізійних інформаційно-вимірювальних систем / М.О.Маркін, О.М.Маркіна // Вісник НТУУ  “КПІ”. Серія приладобудування, – 2009. – Вип. 38. – С. 102-106.
  3. Маркіна О.М. Підвищення точності вимірювання лінійних параметрів температурних фрагментів зони плавки / М.О.Маркін, О.М.Маркіна, А.М.Драган // Восточно-европейский журн. передовых технологий. – 2011. – №4/9 (52). – С. 41-44.
  4. Маркіна О.М. Вимірювання лінійних розмірів за допомогою телевізійних інформаційно-вимірювальних систем / О.М.Маркіна, В.А.Порєв, Ю.А.Агінський // Восточно-европейский журн. передовых технологий. – 2013. – №2/10 (62). – С. 59-62.
  5. Маркіна О.М. Визначення геометричних розмірів мікрооб’єктів за допомогою телевізійних вимірювальних систем / М.О.Маркін, О.М.Маркіна, Ю.А.Агінський // Вісник НТУУ “КПІ”. Серія приладобудування, – 2013. – Вип. 46. – С. 64-70.
  6. Маркіна О.М. Алгоритми покращення зображень об’єктів в інфрачервоному діапазоні / М.О.Маркін, О.М.Маркіна // Вісник НТУ “ХПІ”. – 2014. – Вип. 46. – С. 64-70.
  7. Маркіна О.М. / Термографічне дослідження телевізійної відеокамери з ПЗЗ – матрицею / Маркіна О.М., Дунаєвський В.І., Маслов В.П., Качур Н.В.  // Сенсорна електроніка і мікросистемні технології. – 2014 – Т.11, Вип. 4. – 103-108 С.
  8. Маркіна О. М. Вплив поверхні об’єкта на вимірювання геометричних розмірів цифровою оптичною мікроскопією / Маркіна О. М., Сингаївська О.І., Маслов В. П., Качур Н. В. // Восточно-европейский журн. передовых технологий. – 2014. том 6/5 (72). – С. 59-64.
  9. Маркіна О.М. Розробка інтегрованої системи контролю топологічних елементів оптичних шкал та сіток / Гордієнко В. І., Качур Н. В., Маслов В. П. // Технологический аудит и резервы производства № 3 (23) 2015, с.
  10. Breus O., Maslov V., Markina O., Kachur N., Gordienko V. THERMAL EFFECT OF SELF-HEATING OBSERVED IN OPERATING CCD MATRIX OF DIGITAL CAMERA / Journal of Multidisciplinary Engineering Science and Technology // Volume 2, Issue 6, June – 2015, pp 1351 – 1354.
  11. Маркина О.Н. Исследование особенностей использования галогенных ламп JC в телевизионной измерительной системе / Сборка в машиностроении, приборостроении, – 2015. – Вып. 5 (178). – С. 6-8.
  12. Маркіна О.М. Контроль геометричних розмірів зондів для атомно-силової мікроскопії інформаційно-вимірювальною системою / М. О. Маркін, С. М. Кущовий, О. М. Маркіна, К. О. Бутенко // Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Механіко-технологічні системи та комплекси. – 2017. Том 50. – С. 90-94. (http://mtsc.khpi.edu.ua/article/view/99893)
  13. O. Markina. Measurement of Temperature of Molten Zone at the Directional Crystallization of Blades of the Gas-Turbine Engine / M. O. Markin, S. M. Kushchovyi, O. M. Markina // Uspehi Fiziki Metalov. – 2017. Том 18, PP. 141–154. (http://ufm.imp.kiev.ua/en/browse.html)
  14. O. Markina. Lighting setting features of opto-electronic measuring system for controlling adhesive joints optical components  // Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering. – October 2017. Volume 84, Issue 2 PP. 49–57.
  15. Olga M. Markina, Maksym O. Markin, Maryna V. Filippova, Damian Harasim, Kanat Mussabekov, Azamat Annabayev, “The peculiarity of the construction of an optical-electronic system for measurement of geometrical parameters of objects in the micrometer range”, Proc. SPIE 10445, Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High Energy Physics Experiments 2017, 104456B (7 August 2017); doi: 10.1117/12.2280987; http://dx.doi.org/10.1117/12.2280987.
  16. Markina O. Thermographic research CMOS-matrix CAM OLTEC LC-144P / M. O. Markin, М. V. Myronchuk, O. M. Markina // Scientific discussion (Praha, Czech Rep.). – 2017. VOL 1, No 8 (2017). – PP. 42–46.
  17. Markina O. Detection of Defects Adhesive Joints Optical Components / M. O. Markin, K. V. Bondar, O. M. Markina // Scientific discussion (Praha, Czech Rep.). – 2017. VOL 1, No 8 (2017). – PP. 77–81.
  18. Markina O.M. Lighting setting features of opto-electronic measuring system for controlling adhesive joints optical components // journal of achievements in materials and Manufacturing Engineering/ 2017. VOL 84, Issue 2 October 2017. – PP. 49–57.
  19. Olga M. Markina. Influence of Temperature on the Measuring Accuracy of Devices Based on Surface Plasmon Resonance Phenomenon / Hanna V. Dorozinska, Tatyana A. Turu, Olga M. Markina, Glib V. Dorozinsky, Volodymyr P. Maslov // Modern Instrumentation 2018 Vol.7 PP.1-10.  (Modern Instrumentation Vol.07 No.01(2018), Article ID:82005,10 pages 10.4236/mi.2018.71001 http://www.scirp.org/journal/mi/).
  20. Маркіна О.М. Особливості налаштування бездротової передачі даних у інформаційно-вимірювальній системі мікрокліматичних параметрів в теплиці / О. М. Маркіна, В. А. Набока // Збірник наукових праць XІ всеукраїнської науково-практичної конференції студентів та аспірантів «ПОГЛЯД У МАЙБУТНЄ ПРИЛАДОБУДУВАННЯ». – 2018. – С. 316-319. (http://ela.kpi.ua/bitstream/123456789/24206/1/PUMb_2018_Proceedings_p316-319.pdf)
  21. Markina O.M. Improving the image quality indicator of optical-electronic measuring systems / O. M. Markina, V. A. Naboka // Danish Scientific Journal. – 2018. Vol.2, No.18/2018. – PP. 57–60. (http://www.danish-journal.com/wp-content/uploads/2018/12/DSJ_18_2.pdf#page=57)
  22. Markina O.M. Method Of Determining The Authenticity Of Paper Money Using Matrix Active Pixel Sensor/ O. M. Markina, D. V. Luienko // Danish Scientific Journal. – 2018. Vol.2, No.18/2018. – PP. 44–49. (http://www.danish-journal.com/wp-content/uploads/2018/12/DSJ_18_2.pdf#page=44 )
  23. Markina O.M. Research of illuminating parameters halogen-filled and LED lamp for optoelectronic measuring system / O. M. Markina, M. O. Tykhan // Archives of Materials Science and Engineering. – 2018. Vol. 94, Is. 1. – PP. 18-26. (https://archivesmse.org/resources/html/article/details?id=183221).

Монографії

  1. Маркіна О.М., Маслов В.П. Шляхи вдосконалення цифрових вимірювальних систем на базі оптичного мікроскопу Біолам Л211 Монографія – К.: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2017. – 125 с.

Колективні монографії

  1. Markina, O. Increasing the Accuracy of Informarion Measurment Systems. / O. Markina // Actual Problems of Modern Science : col. monograph. – Bydgoszcz, 2017. – P. 441 – 450.

Патенти

  1. Пат. 38910 України, МПК (2006) H04N 7/00. Мультиспектральний телевізійний пірометр / Маркін М.О., Порєв В.А., Маркіна О.М.; заявник НТУУ “КПІ”. – № u200810067, подано 04.08.2008; опубл. 26.01.2009, Бюл. № 2/2009. -4 с.: іл.
  2. Пат. 44655 України, МПК (2006) H04N 7/00. Мультиспектральний телевізійний пірометр на основі тришарової матриці / Маркін М.О., Порєв В.А., Маркіна О.М.; заявник НТУУ “КПІ”. – № u200904336, подано 30.04.2009; опубл. 12.10.2009, Бюл. № 19/2009. – 4 с.: іл.
  3. Пат. 89021 України, МПК (2006.01) G01B 11/04. Спосіб Маркіної вимірювання мікропереміщень / Маркіна О.М.; заявник НТУУ “КПІ”. – № u 2013 12405, подано 22.10.2013; опубл. 10.04.2014, Бюл. № 7. – 4 с.: іл.
  4. Пат. 89022 України, МПК (2006.01) G01B 11/04. Спосіб Маркіної вимірювання шорсткості поверхні / Маркіна О.М.; заявник НТУУ “КПІ”. – № u 2013 12406, подано 22.10.2013; опубл. 10.04.2014, Бюл. № 7. – 4 с.: іл.
  5. Пат. 98270 Система безконтактного визначення геометричних розмірів об’єктів / Маркіна О.М., заявник Маркіна О.М. – № u 2015 11511, подано 22.10.2014; опубл. 27.04.2015р., Бюл. № 8.
  6. Пат. 95615 Спосіб визначення геометричних розмірів мікромасштабних прозорих об’єктів / Маркіна О.М. Качур Н.В., Маслов В.П., заявники Маркіна О.М. Качур Н.В., Маслов В.П, – № u 2014 08497, подано 25.07.2014; опубл. 25.12.2014, Бюл. № 24. – 3 с.: іл.
  7. Пат. 95934 Спосіб контролю оптично прозорих матеріалів / Маркіна О.М., заявник Маркіна О.М. – № u 2014 08494, подано 25.07.2014; опубл. 12.01.2015, Бюл. № 1. – 4 с.: іл.
  8. Пат.   Спосіб «Сокіл» створення комплексного тепловізійного зображення / Гордієнко В.І., Замосенчук В.М., Венгер Є.Ф., Маслов В.П., Качур Н.В., Порєв В.А., Маркін М.О., Маркіна О.М., ‑ №
  9. Пат. 98340 Використання мікроканальної платини як тестового об’єкту для калібрування мікроскопів у мікрометричному діапазоні / Качур Н.В., Маслов В.П., Маркіна О.М., ‑ № u 2014 11979, подано 05.11.2014; опубл. 27.04.2015р., Бюл. № 8.
  10. Пат. 100033 Застосування компакт-диска як тестового об’єкта для калібрування мікроскопів у мікрометричному діапазоні / Маркіна О.М., Сингаївська О. І.,Маслов В.П., Качур Н.В. ‑ № u 2014 12203, подано 12.11.2014; опубл. 10.07.2015.
  11. Заявка на Пат. Використання рідкокристалічного екрану в якості джерела світла у оптичному мікроскопі / Качур Н.В., Маркіна О.М., Маслов В.П. № а 2015 03615, подано 17.04.2015.
  12. Пат. 118191 України, МПК (2017.01) G01Q 40/02 (2010.01) G01Q 60/00. Застосування DVD-диска як тестового об’єкта для калібрування мікроскопів у мікрометричному та нанометричному діапазонах / О. М. Маркіна, М. О. Маркін, В. П. Маслов. – № u201701514, подано 17.02.2017; опубл. 25.07.2017, Бюл. № 14. – 4 с.: іл.
  13. Пат. 118192 України, МПК G01N 21/896 (2006.01). Спосіб контролю клейових з’єднань оптичних деталей / О. М. Маркіна, М. О. Маркін. – № u201701516, подано 17.02.2017; опубл. 25.07.2017, Бюл. № 14. – 4 с.: іл.
  14. Пат. 119003 України, МПК (2017.01) G01N 21/00 G01N 23/00. Система безконтактного визначення коефіцієнта пропускання оптичних об’єктів / О. М. Маркіна. – № u201701516, подано 17.02.2017; опубл. 25.07.2017, Бюл. № 14. – 4 с.: іл.

Науково-технічні рекомендації

  1. Розробка алгоритмів для покращення зображень в інфрачервоному діапазоні: науково-технічні рекомендації / [авт. кол. : Маркіна О.М., Маслов В.П., Порєв В.А. та ін.]. – К. : НАН України, ІФН ім. В.Є. Лашкарьова, 2013. – 40 с.

 Тези доповідей на конференціях

  1. Маркина О.Н. Оптимизация процесса проектирования с использованием нейронных сетей / О.Н.Маркина, М.Д.Гераимчук, В.С.Камаев // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ 2006: стан і перспективи : V наук.-техн. конф., 27 – 28 квітня 2006 р. – К., 2006. – С. 280.
  2. Маркіна О.М. Вдосконалення методики визначення положення лінії розділу фаз / О.М.Маркіна // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ 2008: стан і перспективи: VІІ наук.-техн. конф., 22 – 23 квітня 2008 р. – К., 2008. – С. 175.
  3. Markinа О. Equivalent wave-length of bispectral television pyrometer / M.Markin, O.Markina // Innovations in Science and Technology : foreign language conference, 25.03.2008 – K., 2007. – P.14 -16.
  4. Маркіна О.М. Підвищення точності при вимірюванні переміщень / О.М. Маркіна // Комп’ютерний моніторинг та інформаційні технології: V Всеукр. наук.-техн. конф. студ., асп. та молодих науковців, 11 – 15 травня 2009 р. – Донецьк, 2009. – С. 10-11.
  5. Маркіна О.М. Оцінка похибки вимірювання геометричних параметрів за допомогою телевізійних інформаційно-вимірювальних систем / Методи та засоби неруйнівного контролю промислового обладнання: ІІ-га наук.-практ. конф. студ. і молодих учених, 25-26 листопада 2009 р. – Івано-Франківськ, 2009. – С.86-87.
  6. Маркіна О.М. Лабораторний стенд для експериментального визначення спектральної характеристики ПЗЗ-матриці камери / М.О.Маркін, О.М.Маркіна // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ 2010: стан і перспективи : ІХ наук.-техн. конф., 27 – 28 квітня 2010 р. – К., 2010. – С. 148-149.
  7. Маркіна О.М. Фізична модель формування вихідного сигналу в біспектральній пірометрії / М.О.Маркін, О.М.Маркіна // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ 2011: стан і перспективи : Х наук.-техн. конф., 21 – 22 квітня 2011 р. – К., 2011. – С. 146-147.
  8. Маркіна О.М. Аналіз впливу складових похибок вимірювання температури в телевізійній пірометрії / М.О.Маркін, О.М.Маркіна, А.М.Драган // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ 2011: стан і перспективи : Х наук.-техн. конф., 21 – 22 квітня 2011 р. – К., 2011. – С. 147-148.
  9. Маркіна О.М. Формування вхідного сигналу в телевізійній інформаційно-вимірювальній системі / М.О.Маркін, О.М.Маркіна // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ 2011: стан і перспективи : Х наук.-техн. конф., 21 – 22 квітня 2011 р. – К., 2011. – С. 148-149.
  10. Маркіна О.М. Підвищення точності вимірювання лінійних розмірів температурних фрагментів/ О.М.Маркіна // Методи та засоби неруйнівного контролю промислового обладнання: 3-тя наук.-практ. конф., 29-30 листопада 2011 р. – м. Івано-Франківськ, 2011. – С.103-104.
  11. Маркіна О.М. Методика контролю метрологічних характеристик еталонної лампи СИ10-300 / О.М.Маркіна // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ: стан і перспективи : ХІ наук.-техн. конф., 24 – 25 квітня 2012 р. – К., 2012. – С. 159-160.
  12. Маркіна О.М. Перспективи телевізійної пірометрії /О.М.Маркіна/ Інтердисциплінарні дослідження в галузях інформаційних технологій, економіки, математики і техніки: П’ятнадцята Всеукр. наук. Інтернет-конф., 29 – 30 жовтня 2012 р. – Тернопіль, 2012. – С. 53 – 54.
  13. Маркина О.Н. Инструментально-методическое обеспечение контроля электростатических загрязнений / О.Н.Маркина, Е.Ю.Гудзенко// Новые направления развития приборостроения: 6-я междунар. науч.-техн. конф., 24-26 апреля 2013 г. – Минск, 2013. С. 14.
  14. Маркина О.Н. Контроль шумового загрязнения помещений / О.Н.Маркина, Е.Э. Безгачев // Новые направления развития приборостроения: 6-я междунар. науч.-техн. конф., 24-26 апреля 2013 г. – Минск, 2013. С. 7.
  15. Маркина О.Н. Методы уменьшения погрешностей телевизионной информационно-измерительной системы / О.Н.Маркина, Е.Э. Безгачев // Новые направления развития приборостроения: 7-я междунар. науч.-техн. конф., 23-25 апреля 2014 г. – Минск, 2014. С. 5.
  16. Маркина О.Н. Применение ТИИС для измерения шероховатости поверхности / О.Н.Маркина, Е.Ю.Гудзенко// Новые направления развития приборостроения: 7-я междунар. науч.-техн. конф., 23-25 апреля 2014 г. – Минск, 2014. С. 11.
  17. Маркіна О.М. Измерение шероховатости с помощью телевизионной информационно-измерительной системы / О.М.Маркіна // ПРИЛАДОБУДУВАННЯ: стан і перспективи : ХІII наук.-техн. конф., 23 – 24 квітня 2014 р. – К., 2014. – С. 138-139.
  18. Маркіна О.М. Тенденції розвитку цифрових телевізійних безконтактних систем вимірювання геометричних розмірів мікроскопічних об’єктів / О.М. Маркіна // Качество, стандартизация, контроль : теорія і практика: XIV Международная науч.- практ. конф., 23-26 сентября 2014 г. – Одесса, 2014. – С. 86-88.
  19. Маркіна О.М. Розроблення способу телевізійного контролю матеріалів прозорих в оптичному діапазоні / О.М. Маркіна, Качур Н.В., Маслов В.П.// Качество, стандартизация, контроль : теорія і практика: XIV Международная науч.-практ. конф., 23-26 сентября 2014 г. – Одесса, 2014. – С. 88-89.
  20. Маркіна О.М. Дослідження параметрів джерела освітлення в телевізійній вимірювальній системі /О.М.Маркіна // Всеукраїнська наукова Інтернет-конференція “Інформаційне суспільство: технологічні, економічні та технічні аспекти становлення”, 25-26 лютого 2015 р. Тернопіль, випуск 11.
  21. Маркіна О.М. Удосконалення системи освітлення оптичного мікроскопу типу “БІОЛАМ” / О.М. Маркіна, Качур Н.В. // Лашкарьовські читаня 2015: конференція молодих вчених з міжнародною участю з фізики напівпровідників, 2-4 квітня 2015 м. – Київ, 2015. – С. 88.
  22. Система контроля за уровнем относительной влажности и температурой воздуха в тепличном хозяйстве / О. Н. Маркина, В. А. Набока // Новые направления развития приборостроения: 10-я междунар. науч.-техн. конф., 26-28 апреля 2017 г. – Минск, 2017. С. 194-195.
  23. Маркина О.Н. Оптико-электронные системы обнаружения дефектов клеевых соединений оптических деталей / О. Н. Маркина, К. В. Бондарь, М. А. Маркин // Новые направления развития приборостроения: 10-я междунар. науч.-техн. конф., 26-28 апреля 2017 г. – Минск, 2017. С. 26-27.
  24. Маркіна О.М. Визначення площі склеювання прозорих об’єктів з матричним приймачем випромінювання / О. М. Маркіна, Р. А. Шкарівський // Міжнародна наукова інтернет-конференція “Інформаційне суспільство: технологічні, економічні та технічні аспекти становлення (випуск 34)” / Збірник тез доповідей: випуск 34 (м. Тернопіль, 11 грудня 2018 р.). – Частина 3. – Тернопіль. – 2018. – С. 85-87. (https://drive.google.com/file/d/1FXRaQkYi4J09pzFWPdQaJ6Mhk5OjhTcU/view)