У рамках дисципліни “Інформаційні, інтелектуальні та нанотехнології” доктор технічних наук, професор Маслов Володимир Петрович порушує питання поверхневого плазмонного резонансу. Зокрема, ведеться мова про розробку Інституту фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України – “Рефрактометр на поверхневому плазмонному резонансі «Плазмон-6»”.
У 2015 році в рамках угоди про співробітництво ІФН ім. В.Є.Лашкарьова передав кафедрі НАЕПС прилад “Плазмон-6” для проведення лабораторних робіт для студентів кафедри.
Прилад використовується для:
- Вимірювання кінетичних характеристик адсорбційних, корозійних та електрохімічних реакцій;
- Визначення товщини і оптичних параметрів органічних та неорганічних нанорозмірних плівок;
- Відображення кінетики біомолекулярних взаємодій в реальному вимірі часу
Галузі застосування:
- Ветеринарія;
- Медицина;
- Біотехнологія;
- Харчова промисловисть;
- Екологічний моніторинг;
- Митний контроль.
Поверхневий плазмонний резонанс (ППР) являє собою унікальну технологію оптичного сенсингу, в якому відслідковуються зміни коефіцієнта заломлення середовища поблизу поверхні сенсора. ППР може бути використаний для моніторингу широкого кола фізико-хімічних процесів, які викликають зміни оптичних параметрів і геометрії досліджуваних об’єктів та стає останнім часом широко використовуваною зручною технологією для фундаментальних та прикладних досліджень в різних напрямках. Найбільш широко використовується в світових лабораторіях для біохімічних вимірів.
Плазмон-6 – це контрольований комп’ютером оптоелектронний рефрактометр, в якому використовується явище поверхневого плазмонного резонансу (ППР). Необхідні умови для збудження плазмону створюються спеціальною призмою, яка може обертатися на контрольований комп’ютером кут. Кутова залежність інтенсивності (ППР-крива) є основною вихідною характеристикою приладу. Її форма та кутова позиція резонансного мінімуму дозволяють робити оцінку показника заломлення та товщини шару досліджуваного об’єкта. Ефективне загасаюче електричне поле поверхневого плазмону розповсюджується на відстань близько 200 нм від поверхні плівки чутливого елементу приладу, що обмежує товщину досліджуваного шару. Кутова позиція ППР змінюється при найменших змінах оптичних характеристик середовища, при цьому прилад фіксує зміни в режимі реального часу. Рефрактометр має додатковий вхідний канал для реєстрації електричного сигналу одночасно з оптичними.